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電子計測

オプトエレクトロニクス

I-V特性計測装置
PECK2400-N

I-V特性計測装置 (PECK2400-N)
用途・特徴

半導体のI-V特性(電流-電圧特性)を測定する装置です。特に各種太陽電池のI-V特性の計測に適した機能を提供します。

アプリケーション

各種太陽電池のI-V測定

カタログダウンロード

PECK2400-N.pdf(155KB)

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仕様

・ソースメータ(Keithley社2400型)
・ソフトウェア(ペクセル・テクノロジーズ I-V特性アナライザ)
・接続専用(ソースメータ-PC間)ケーブル

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