PTT株式会社

光工学による半導体やプラスチック、フィルムなどの膜厚、視野角特性測定、また製造工程における検査用計測などナノテク領域における計測装置・分析装置と、メーカートレーニングから得たノウハウを活かした計測ソリューションをご提供します。また、お客様の研究・開発から販売に至るあらゆる段階におけるサポートをご利用ください。

製品分野	製品	DATA	メーカー
ディスプレイ評価装置	VCMaster3D 3D視野角特性測定評価装置 プレゼン資料（日本語版）		ELDIM社
	VCMaster3D 3D視野角特性測定評価装置 カタログ（英語版）
	EZContrast 視野角特性測定評価装置 カタログ（日本語版）
	EZContrast 視野角特性測定評価装置 カタログ（英語版）
	EZContrastMS 視野角特性測定評価装置（マルチスペクトラム） カタログ（英語版）
	MURAtest ２次元輝度色度計 カタログ（日本語版）
	MURAtest ２次元輝度色度計 カタログ（英語版）
	MURAMVP　２次元輝度色度計（高倍率タイプ） カタログ（英語版）
	UMasterMS ２次元輝度色度計（マルチスペクトラム）カタログ（英語版）
	OptiScope 応答速度・フリッカー測定評価装置 カタログ（日本語版）
	OptiScope 応答速度・フリッカー測定評価装置 カタログ（英語版）
	CCFLamp CCFLランプ、カラーフィルター カタログ（日本語版）
	CCFLamp CCFLランプ、カラーフィルター カタログ（英語版）
	EUMaster LED視野角特性測定評価装置 カタログ（英語版）
	ECMaster LED視野角特性測定評価装置 カタログ（英語版）
太陽電池評価装置	PEC-L01 簡易型ソーラーシミュレータ (非平行光タイプ)		ペクセル・テクノロジーズ株式会社
	PEC-L12 標準型ソーラーシミュレータ (擬似平行光タイプ)
	PEC-L15 ソーラーシミュレータ (非平行光タイプ)
	PECK2400-N I-V特性計測装置
	PEC-SI01 光量検定用標準Siセル
	PEC-T10 太陽電池用調温セルステージ
	PEC-S20 作用スペクトル(IPCE)測定装置
顕微分光システムおよび顕微鏡	20/20 UV-VIS-NIR 顕微分光ユニット™		CRAIC社
	顕微分光ユニット QDI302™
	ステレオ顕微分光システム QDI QDS �V™
	ブロードバンドUV-VIS-NIR顕微鏡 UVM-1™ , UVM-2™
	CTR-1 顕微ラマン分光ユニット™
膜厚測定	膜厚測定システム　F20		Filmetrics
	膜厚測定システム　F30
	膜厚測定システム　F40
	膜厚測定システム　F50
	ミクロ領域イメージング膜厚測定システム F42
小型分光器	小型分光器　PTTモニター		PTT
小型分光器、 小型ラマンシステム	小型分光器 BRC112E		BWTEK社
	ポータブルラマン分光システム
各種シミュレーションソフトウェア	TopCoat2 / TopWeb2		Rheologic社
超高圧加工処理装置	超高圧加工処理装置「まるごとエキス」		株式会社 東洋高圧