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電子計測

オプトエレクトロニクス

光学測定、膜厚の測定、ナノテク領域における計測・分析装置のご紹介とナノテクノロジー計測ソリューション

光工学による半導体やプラスチック、フィルムなどの膜厚、視野角特性測定、また製造工程における検査用計測などナノテク領域における計測装置・分析装置と、メーカートレーニングから得たノウハウを活かした計測ソリューションをご提供します。また、お客様の研究・開発から販売に至るあらゆる段階におけるサポートをご利用ください。

お問い合わせ先

計測グループ オプトエレチーム
東京:TEL 03-5333-2391 FAX 03-5333-2390 オプトエレチームへのお問い合わせはこちら

製品一覧
製品分野 製品 DATA メーカー
ディスプレイ評価装置 EZContrast 視野角特性測定評価装置 PDFデータを表示します ELDIM社
MURAtest 2次元輝度色度計 PDFデータを表示します
OptiScope 応答速度・フリッカー測定評価装置 PDFデータを表示します
CCFLamp CCFLランプ、カラーフィルター PDFデータを表示します
太陽電池評価装置 ソーラーシミュレータ(擬似太陽光発光装置)
PEC-LS1016A
PEC-LS1016
  ペクセル・テクノロジーズ株式会社
顕微分光システムおよび顕微鏡 顕微分光システムUV-VIR-NIR QDI2010™ PDFデータを表示します CRAIC社
顕微分光ユニット QDI302™ PDFデータを表示します
ステレオ顕微分光システム QDI QDS V™ PDFデータを表示します
ブロードバンドUV-VIS-NIR顕微鏡 UVM-1™ , UVM-2™ PDFデータを表示します
PDFデータを表示します
膜厚測定 膜厚測定システム F20PDFデータを表示します Filmetrics
膜厚測定システム F30PDFデータを表示します
膜厚測定システム F40PDFデータを表示します
膜厚測定システム F50PDFデータを表示します
ミクロ領域イメージング膜厚測定システム F42 PDFデータを表示します
小型分光器 小型分光器 PTTモニター PDFデータを表示します PTT
小型分光器、
小型ラマンシステム
小型分光器 BRC112E PDFデータを表示します BWTEK社
ポータブルラマン分光システム PDFデータを表示します
各種シミュレーションソフトウェア TopCoat2 / TopWeb2 PDFデータを表示します Rheologic社
超高圧加工処理装置 超高圧加工処理装置「まるごとエキス」 PDFデータを表示します 株式会社 東洋高圧
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