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電子計測

オプトエレクトロニクス

自動膜厚マッピングシステム
F50

用途・特徴

F50はF20にマッピングの機能が追加されたものです。
コンピュータプログラムにより設定されたパターンや測定ポイント数に応じて、モーターステージを自動的に測定点に移動し、膜厚のマッピングを行います。
膜厚分布は2次元のカラーコンター図で表示されます。
自動ステージは、2インチから12インチまでの様々な大きさの基板に対応します。

アプリケーション

Siウェハー・化合物ウェハー等の面内膜厚分布測定

カタログダウンロード

カタログ_膜厚測定原理の謎を解く(2,133KB)

カタログ 膜厚測定システムF50(2,188KB)

データはAdobe Systems(アドビシステムズ社)のPortable Document Format (PDF)形式です。Adobe(R) Readerをダウンロードの上ご覧ください。
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仕様
分光波長範囲 400-1000nm(その他設定あり)
測定可能サイズ 4〜12インチ(その他設定あり)
オプション・その他特記事項

●透過光オプション
●コンタクトプローブ
●レンズアダプタ
●顕微鏡用アダプタ
●回転ステージ
など、ニーズにマッチしたシステムをご提案いたします。

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