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電子計測

オプトエレクトロニクス

顕微鏡式膜厚測定装置
F40

用途・特徴

F40は顕微鏡に取付けることにより、微小領域の薄膜測定を可能にするシステムです。 パターンのある表面や微小なサンプルの測定など、アプリケーションによっては、10μm程度もしくはそれ以下のスポット径が要求されることがあります。 F40は顕微鏡の光源をそのまま利用して対物レンズを通して受光しますので、対物レンズの倍率により受光スポット径を変えることができます。 F40の顕微鏡用アダプタはカメラ用のCマウントに取り付けられますので、既存の三眼鏡筒式反射顕微鏡を問題なく使用して膜厚計として使用することができます。

アプリケーション

プリント基板等の配線上やその他微小スポットの膜厚測定

カタログダウンロード

カタログ_膜厚測定原理の謎を解く(2,133KB)

カタログ 膜厚測定システムF40(2,448KB)

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仕様
分光波長範囲 400-850nm
スポット径 10μm-100μm
オプション・その他特記事項

●透過光オプション
●コンタクトプローブ
●レンズアダプタ
●顕微鏡用アダプタ
●回転ステージ
など、ニーズにマッチしたシステムをご提案いたします。 

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