PTT株式会社

MURAtestは、輝度、コントラスト、色度の2次元測定を行うことが可能です。
　　・　面ムラ、均一性、輝度班、Pixel不良の評価
　　・　高速、高精度の測定
　　・　測定距離の変更による、測定器の再校正の必要性無し
　　・　測定対象のサイズにフレキシブルに対応
　　・　ディスプレイのピクセル・レベルの検証が可能

MURAtestは、LCD　PDP　OLED等の各種ディスプレイについて、2次元平面で測定を行い、
色むらや輝度むら、均一性や欠損の評価を行うことが出来ます。
　　・　面ムラ、均一性、輝度班の評価、Pixel不良の検出
　　・　自動車、航空機等の様々な計器の認視性検証
　　・　CCFLやバックライトの輝度評価
　　・　残像イメージの評価

MuraTest.pdf(393KB)
MURATEST_catalog_en.pdf(534KB)

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・輝度（0.0001−500,000 cd/�u）、色度、コントラストの2次元測定
・面ムラ、均一性、輝度班、Pixel不良の評価
・独自の光学系、ｶﾗｰﾌｨﾙﾀ、大型CCD、16bit A/Dによる高精度測定
・測定距離の変更による、測定器の再校正の必要性無し
・測定対象のサイズにフレキシブルに対応 （CCD解像度 1.5M〜16M）
・ディスプレイのピクセル・レベルの検証が可能
（マクロレンズ使用時 分解能最小9μm、ミクロMVPシステム使用時　分解能最小0.5μｍ）