PTT株式会社

■概要
・UV−VIS−NIR領域の分光測定およびイメージングを
　１台でカバーできる高性能な顕微分光光度計です。
・吸収、反射、蛍光、偏光を、観察エリアはそのままに、
　最小1ミクロンのスポット径まで、分光測定することが可能です。（アパーチャ：６段階切替可）
・非接触・非破壊で、深紫外から近赤外までを一度に、ワンショットで高速測定可能です。

■特長
・200〜2100nmの広帯域分光測定が可能（観察は2500nmまで対応）
・深紫外から近赤外までをワンショットで高速測定が可能
・ディテクタは電子冷却式で、低ノイズで安定性が高く、ＳＮの良い測定が可能
・高解像度のカラーデジタル画像システム、ＵＶ保護アイピース対応
・WindowsTMＰＣ、スペクトル解析／システム制御ソフトウエアパッケージ

印刷物・文書解析・インク解析・細胞（タンパク質）観察・光源解析（LED等）・有機ELディスプレイ解析・半導体解析・表面プラズモン共鳴・顕微膜圧測定　など

CRAIC_2020_UV-VIS-NIR.pdf(1450KB)

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