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オプトエレクトロニクス

顕微分光システムUV-VIS-NIR
QDI2010™

用途・特徴

・UVから可視光、近赤外に渡る広範囲で測定可能な顕微分光光度計です。

・吸収、反射、蛍光、偏光を、観察エリアはそのままに、測定スポットだけを最小1ミクロンまで、
 6段階切替えて測定できます。

・非接触・非破壊で、深紫外から近赤外までを一度に、ワンショットで高速測定可能です。

・システムには、高性能のUV-VIS-NIRブロードバンド顕微鏡、高解像度のカラーデジタル画像システム、
 UV保護アイピース、コンピュータ及びスペクトル解析/システム制御ソフトウエアパッケージが含まれています。

アプリケーション

フラットパネルディスプレイ、フラットパネル用光源、有機ELディスプレイ、半導体解析、法科学解析、
表面プラズモン共鳴

カタログダウンロード

QDI2010カタログ(131KB)

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仕様
分光範囲 200 - 1000 nm  最大2100 nmまで
イメージング UV、可視、NIR画像化が可能
サンプリングエリア 1‐100μm2 可変
スキャンタイム(フルレンジ) 最小7ms
オプション

オートステージ、NISTトレーサブルスタンダード、スペクトルデータベース、
色計算ソフトウエア、膜厚測定ソフトウエア

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