PTT株式会社

・ドキュメントや構造物など、比較的大きいサンプルの顕微分光を行うためのシステムです。

・紫外及び可視から近赤外に渡る広範囲で測定可能な顕微分光システムです。

・非接触・非破壊で、吸収、反射、蛍光、偏光を、最小25ミクロンのスポットで測定可能です。

・紫外から近赤外までを一度に、ワンショットで測定可能です。
　フレキシブルで高性能なシステムのため、科学分析にも、工業製品検査にもお使い頂けます。

・システムには、高性能のステレオ顕微鏡、高解像度のカラーデジタル画像システム、
　コンピュータ及びスペクトル解析／システム制御ソフトウエアパッケージが含まれています。

偽造文書解析、法科学解析、鉱物解析、バイオ、石炭反射解析、 フラットパネルディスプレイ品質評価

QDIQDS�Vカタログ(167KB)

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オートステージ、NISTトレーサブルスタンダード、スペクトルデータベース、色計算ソフトウエア、
膜厚測定ソフトウエア