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電子計測

オプトエレクトロニクス

顕微分光ユニット
QDI302™

用途・特徴

・顕微鏡に接続するだけで、紫外及び可視から近赤外に渡る広範囲で測定可能な顕微分光ユニットです。

・吸収、反射、蛍光、偏光を、観察エリアはそのままに、測定スポットだけを最小1ミクロンまで、
 6段階切替えて測定できます。

・システムには、Windows™XPで動作するスペクトル解析/システム制御ソフトウエアパッケージ
 が含まれています。

・インストールも容易で、簡単に使えるシステムです。
 お持ちの顕微鏡に取り付けることができますので、コスト低減が可能です。
 (分光波長範囲は取り付ける顕微鏡の性能に依存します。)

アプリケーション

フラットパネルディスプレイ、フラットパネル用光源、有機ELディスプレイ
半導体解析、プロセスコンタミネーション解析、鉱物解析、石炭反射解析、法科学解析

カタログダウンロード

QDI302カタログ(139KB)

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仕様
分光範囲 200 - 850 nm または 350 - 1000 nm
サンプリングエリア 1‐100μm2 可変
スキャンタイム(フルレンジ) 最小4ms
オプション

オートステージ、NISTトレーサブルスタンダード、スペクトルデータベース、色計算ソフトウエア、
膜厚測定ソフトウエア

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