PTT株式会社

PTT株式会社 > 電子計測 > 高周波システム > TESEQ社 > NSG3040,NSG3060

電子計測

高周波システム

伝導性イミュニティ複合試験機
NSG3040,NSG3060

用途・特徴

NSG3000シリーズは一台でIEC/EN61000-4-4/5/8/11/29の試験が可能となるコンパクトな伝導性イミュニティ複合試験機です。
ノイズ発生源はコンパクトな筐体にモジュールとして内蔵しており、本体にはタッチパネル方式のウィンドウが装備されており、リモート制御とタッチパネル制御の両方が可能です。バースト/EFT試験(IEC/EN61000-4-4)、雷サージ試験(IEC/EN61000-4-5)共用の単相結合ネットワーク(16A)十アルス発生器が本体に内蔵されております。大容量三相結合ネットワーク、パルス磁界試験(IEC/EN61000-4-8)用の発生源などはオプションとして用意しております。
前機種同様、レポートの作成についても専用ソフトウェアでサポートしております。
複合試験器MODULAの後継機種となるNSG3040は4.4kVの試験が可能、NSG2050の後継機種NSG3060は6.6KVの試験が可能です。8kVの試験も提案可能ですので営業担当にお問い合わせください。

カタログダウンロード

NSG_3060_JPN.pdf(239KB)

データはAdobe Systems(アドビシステムズ社)のPortable Document Format (PDF)形式です。Adobe(R) Readerをダウンロードの上ご覧ください。
Get Adobe Reader

仕様

共通

寸法 449(W)×328(D)×565(H)mm
重量 約22kg(構成により変わります)
電源 85-265VAC 47-63Hz

バーストジェネレータ

パルス増幅 ±200V〜4.8kV(1Vstep) 開路時
±100V〜2.4kV 50Ωマッチングシステム

サージジェネレータ

パルス電圧(開路) ±200V〜4.4kV 1.2/50μs(1VStep)
パルス電圧(短路) ±100A〜2.2kA 8/20μs
ページトップへもどる

電子計測内のローカルナビゲーションです
電子計測トップ
環境計測
高周波システム
オプトエレクトロニクス
海外進出支援
メーカー別一覧